PSIA corp.
XE-200
9년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 달리 분류되지 않는 현미경
2003-05-07
286,000,000원
기관의뢰
고정형
시간별
60,000원
- 탐침을 이용하여 물질의 미세영역 표면 관찰
- 원자 단위의 물성계에서 원자간의 힘의 작용을 측정하여 시료의 표면을 형상화 하거나, 이와 반대로 탐침에 힘을 가하여 시료 표면의 원자나 분자 배열을 조작하는 데 사용되는 현미경
기능: 물질 표면의 분자단위 (~ xx1,000,000) 영상까지 관찰 표면 스캔 X-Y 스캐너 : 100x100um Z 스캐너 : 12um 측정시료 종류 : 고정이 가능한 고체 측정 기능 : 접촉식 비접촉식 AFM, EFM Date 분석기능 : 표면 형상 제어 3차원까지 표면 형상 표현 가능