JEOL
JSM-6700F
5년
주장비
분석
기타 > >
2002-04-08
268,146,754원
고정형
건별
원
원리 및 특징 생체고분자 물질과 천연물등의 분리정제와 분석등에 사용함 - 반도체, 고분자, 박막재료, 촉매, 금속, 섬유 등 모든 고체의 표면 형태 관찰 및 구성 원소의 성분 분석에 이용함 - 전자빔을 물질에 주사할 때 발생하는 2차 전자를 이용하여 물질의 표면을 관찰하며, 에너지 분산형 X-선 형광분석기를 부착하여 구성 원소의 성분을 분석함 - Schottky field emission gun, 배율: 20~800,000, 1.5 nm at 10 kV, 2.5 nm at 1 kV, 0.2~30 kV - W-hairpin type gun, 배율: 7~300,000, SEI(3.0 nm), BSI(4.0 nm). 0.5~30 kV - 기초 연구 및 화학 관련 산업 전반의 시료의 표면 관찰 및 구성 원소의 분석에 활용 구성 및 성능 -0.2mL-100mL/min Pump with Quarternary blending capability sparger-manual injecter and auto sample loader with 4 sample channels-Dual channel programmable UV/VIS detector(190-800nm) 사용예 미세물질의 표면분석
0.2mL-100mL/min Pump with Quarternary blending capability sparger-manual injecter and auto sample loader with 4 sample channels-Dual channel programmable UV/VIS detector(190-800nm)