HITACHI
S-3000N
10년
주장비
분석
기타 > >
2000-11-08
112,573,140원
고정형
기타
0원
1)가속된 전자가 시료의 표면에 조사될 때 발생되는 2차 전자 및 X-선으로부터 시료의 미세영상을 확대, 관찰하고 시료의 구성원소를 정성, 정량하며, 시료의 내부에 침투한 전자가 다시 시료 밖으로 나올 때 생기는 전자량의 차이에 의해 조성원소 중 질양이 큰 원소와 작은 원소의 분포를 알 수 있는 고배율 현미경이다.
2)화상해석으로 관찰에서 분석까지 가능하며, 측정중 Realtime으로 자동 정성해석 가능하고 정량분석으로 시료에 따라 ZAF벙을 이용해 보정 계산이 가능
1)각종재료의 나노메타단위의 표면 형상 측정
2)비전도성 재료 및 생체재료의 관찰 전 처리 3차원(높이 방향)형성 분석