광전자정밀
LEOS(OPI-100)
4년
주장비
계측
광학·전자 영상장비 > 광파발생/측정장비 > 달리 분류되지 않는 광파발생/측정장비
2011-06-10
44,500,000원
고정형
원
○ 본 LED 광?전자성능평가 시스템은 측정 소자의 온도 조건을 변화시켜 소자의 광?전자 특성을 측정할 수 있도록 구성되어 있음.
○ 이를 위하여 본 LED 광?전자성능평가 시스템의 주요 구성요소는 적분구, 스펙트로미터, 전원공급장치, 온도제어 가능 측정시료용 어뎁터 모듈, Detector 및 제어 컴퓨터부로 이루어짐.
○ 이를 통하여 본 LED 광?전자성능평가 시스템은 광전변환효율, 광속, 색좌표, 색온도, 연색지수, 분광분포 및 I-V 및 I/V sweep scan 등의 전기적 특성 등을 측정할 수 있도록 구성되어 있음.
○ 본 LED 광?전자성능평가 시스템은 상기 성능 평가를 제어 컴퓨터가 GPIB 또는 RS-232 등의 인터페이스를 통한 기기 제어가 가능한 Windows XP 또는 Windows 7 기반 프로그램으로서 구성되어야 하며 사용자가 용이하게 입출력이 가능하도록 구성되어 있음.
① 적분구(Integrating Sphere)
○ GPIB, RS-232 등으로 제어 가능하며, 보조 광원을 가지는 직경 12 인치 이상의 고반사율(95% 이상 @250~800 nm)의 것
② Spectrometer
○ GPIB, RS-232 등으로 제어 가능한 측정범위 250~800 nm 이상의 파장 정밀도 ±0.3 nm의 것
③ Source Meter
○ GPIB, RS-232 등으로 제어 가능한 20W(20V/1A) 이상 DC 출력 및 측정 가능한 것, V Source 정밀도(소스/측정): 0.02/0.015% 이하, I Source 정밀도(소스/측정): 0.067/0.067% 이하
④ Sample Adaptor Jig
○ 1~5mm 크기의 SMD 형태의 측정시료 장착하여 상온~85℃온도 제어 가능하며 냉각기능 가진 것
⑤ PC 및 Operating Software
○ Windows XP 또는 Windows 7 기반 프로그램으로서 GPIB 또는 RS-232 등의 인터페이스를 통한 기기 제어 가능하며 입출력 용이하게 구성되며, Rack type으로 구성