Nt-mdt
AFM-NTEGRA Solaris
10년
주장비
분석
기타 > >
2011-07-11
42,532,138원
고정형
기타
원
특징본 제품은 일반 대기 중에서 시료표면의 전처리 과정 없이, 즉, 도체, 반도체 및 부도체에 상관없이 3차원 형상을 측정하는 장비로 폭, 높이, 각도, 거칠기 등 3차원적 정보를 얻을 수 있으며, 액체 내에서도 작동하며 살사 있는 세포의 구조나 세포 분열 등을 관찰 할 수 있다.또한 시료의 전기적, 자기적, 물리적 특성, 물질 상호 반응 현상 측정 및 미세한 시료 표면 형상의 변경 기능도 갖고 있다.
성능 및 사양 1. Sxan Range : 50um * 50um*12um 2. Direct on-axis optical microscope : 1um resolution 3. Acoustic Enclosure & Vibration Isolation 4. Variable Enhanced Conductive AFM : 10mA-10nA measurable 5. Enhanced EFM : DC-EFM, SKPM, PFM, software, and an EFM test sample 6. External High Voltage Toolkit : DC bias range-2kV(external), 10V(internal) AC bias range-10V 7. Temperature Control Stage: Form room T to 450℃