㈜지올코리아
Field Emission Scanning Electron Microscope
10년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경
2010-05-20
221,980,480원
고정형
기타
원
주사전자현미경으로 최대 15kV의 전자빔을 시편에 주사하여 발생하는 Secondary electron을 detecting하여 시편의 표면 이미지를 얻음.
Gun, E-beam generator, BSE 장치 등으로 구성되어 있으며, 15kV에서 최대 1.0nm의 SEI resolution, 25~1,000,000의 배율로 측정 가능