EDAX INC
Genesis APEX2
4년
부대장비(부가장치) (주장비:집속이온빔장치)
분석
기계가공·시험장비 > 절삭장비 > 달리 분류되지 않는 절삭장비
2010-01-12
57,191,833원
기관의뢰
고정형
시간별
175,000원
본 장비는 센터에서 활용중인 FIB(Focused Ion Beam) 장비를 활용하여 SMT/PCB, LCD, LED등 관련 전자부품의 초미세 가공 후 가공 면에 대한 구성성분을 분석하기 위한 장비로써 전자현미경의 전자총으로부터 발생된 전자빔이 시료 표면에 주사되어 전자와 시편의 원자 사이의 상호작용에 의하여 각종 신호가 발생하는데 이때 발생한 여러 가지 신호 중에 화학 성분을 분석하는 특성 X선 신호를 detector로 검출하여 시료 중에 함유된 화학적 성분을 분석하는 장비이다. 전자현미경에서 관찰한 샘플의 area 또는 spot로 선택하여 정성 분석 및 정량분석을 할 수 있으며, 짧은 시간에 여러 가지 원소를 동시에 분석할 수 있다는 장점이 있다.
1. LN2 free high-Speed SDD detector a) Detection range : Beryllium (4) up to Americium(95) b) Super Ultra Thin window c) 10 mm2 active area d) Energy resolution < 127eV (Mn kα), guaranteed at 100,000 cps e) Ultra high-speed operation (up to 275 kcps output count rate) f) Maximum input count rate : 750 kcps g) Vibration free cooling method no image distortion at the SEM2. Signal Processing Unit a) Acquisition board used to collect and digitize the X-ray signal input from the SDD type detecting unit. b) Beam Control Package and Electron Microscope Interface kit c) versatile interfaces for data acquisition and remote control d) Use saved spectra calibration data at each processing time and channel without any calibration