Solar Metrology
SMX-BEN1
10년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 광파발생/측정장비 > 달리 분류되지 않는 광파발생/측정장비
2010-09-29
98,197,633원
고정형
건별
39,600원
복잡한 시로 전처리 과정을 거치지 않고, 박막시료의 조성을 분석하는 비파괴 분석장치. 주로 태양전지의 박막 CIGS 공정개발 및 프로세스를 지원하는 장비로 금속필름 조성을 정밀하게 측정 가능하다. X-선을 시료 아래쪽에 조사하여 발생한 형광 X-선을 반도체검출기에서 전기신호로 전환한 후 그 값을 데이터로 표시해 준다.
1.X-ray tubeTarget: WWindow: Be PowerWATTS: 50Max HV: 50 kVMax beam current: 1.0 mALine Power: Direct from AC line 120/220VAC, Console models also support 208VACBeamShutter1 primary filterSingle Collimator Configuration – 2.0mm2. X-ray DetectionX-ray DetectorSilicon Pin Diode DetectorDetectable Elements: S (Z= 16) to U (Z=92)3. Sample ViewingSample PositioningLaser Triangulation Focus 4. Stage / Head positioning. Motorized Z stage, 6” (15 cm) range.