Jeol Ltd.
JSM-7600F, INCA Energy 350
5년
주장비
시험
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경
2010-12-24
330,000,000원
기관의뢰
고정형
시간별
100,000원
주사전자현미경(SEM: Scanning Electron Microscope)의 원리는투과형과 같이 시료 전체에 전자선을 쏘는 것이 아닌, 아주 작은 전자선으로 시료를 주사하고, 전자선을 쏜 좌표의 정보에서 상을 구성하여 표시합니다. .
1.Field Emission Scanning Electron Microscope(JSM-7600F) : 1set($258,760)
-Resolution : 1.0nm/1.5nm/3.0nm Guaranteed at 15KV/1KV/5nA
-Magnification: 25 to 1,000,000X
-Image Modes : SEI, BEI(Compo, Topo:Option)
-Accelerating Voltage: 0.1-30KV
-Probe Current: 1*10(-13) to 2*10(-7)A
-Electron Gun : ZrO/W(100) Schottky Type
-SpecimenStage: Fully Eucentric Goniometer Type
-Specimen Movements : X:70mm, Y:50mm, Z:25mm(W/Fine Z), T:-5 to +70˚, R:360˚Endless
* Acc. 19" LCD, Retractable BE Detector, Liquid Nitrogen Trap, Std. Tool Kit2
2.Energy Dispersive X-ray Spectrometer(INCA Energy 350/Oxford, U.K) : 1set($92,500)
1)INCA Platform: -Navigator / -The Advisor / -Information Management Sys. / -Reporting
2)INCA Energy Hardware: -System Computer / -Microanalytical Processor / -Superscan-Advanced Digital Scanning Sys.
-Analytical Silicon Drift Detector(X-Max) / -LN2 Free Type Detector
* Local (\52,470,000)
1)Cooling Water Curculator / 2)UPS(7.5KV) / 3)Imaging System / 4)Thickness Monitor
5)Automatic Magnetron Sputter Coater with Pt Target / 6)Inkjet Color Printer