1. 결정질 실리콘 태양전지 내부 결함을 이미지로 검사 가능2. Electroluminescence(EL) 기법을 이용하여 최단시간 다양한 결함을 한번에 검출 가능3. DC 방식이 아닌 AC 방식을 적용하여 1회 측정으로 모든 결함 검사 가능4. 내부결함(미세균열, 전극불량, 열점 검사 등)을 검사5. 셀 수입검사(모듈 제조 시) 및 최종 전수검사(셀 제조 시)로 적용이 가능 6. 측정된 이미지의 결함 유무를 즉시 판별하는 알고리즘 채택으로 에러를 최소화 함
.1.1 화상 카메라(4M) * 마이크로렌즈 온 칩형 풀 프레임 CCD 적용 * 분해능 : 2048 x 2048 * 픽셀 사이즈 : 5.4um x 5.4um * 구동 영역 : 11mm x 11mm * 리드 노이즈 : 10θrms * Readout rate : 5Mhz (High quality Mode) 25Mhz (High Speed Mode) * Frame rate : (HQ Mode) : 2.7s/full frame * 디지털 분해능 : 16bit/12bit * PC 인터페이스 : USB 2.0 * 광학 인터페이스 : C-Mount 1.2 위치 보정용 스테이지 * 미세 보정용 X-Y 축 매뉴얼 스테이지 적용 * 이동거리 : 각각 Max. 100 mm * CCD 고정 기구 보형물 : - 소재 : STS316 , 폴리아세탈구성1. 미세 균열 검사 시스템 (Micro Crack Inspection System K301) - Camera & Optic * Pixel Resolution : 1.4M(1360*1024) * Active Wavelength :300~1100nm - PC * System PC; P4, 17" LCD - Micro Image Analysis Software * AC Modulate Image * Inspection Time : <1sec - Illumination Part * LED Lighting System2. 샘플 고정 장치 (Sample Mounting Unit K901) - 샘플 크기; Max. 156x156mm Si Cell compatible3. 솔라 I-V 측정 유닛 (Photovoltaic Powermeter K101-PRO10) - 실리콘 웨이퍼 솔라셀의 최적 I-V 측정 - 펄스 출력 : 10Hz ~ 10kHz