KP Technology
Scanning Kelvin Probe 5050
10년
주장비
분석
전기·전자장비 > 측정시험장비 > 달리 분류되지 않는 측정시험장비
2010-05-27
68,000,000원
기관의뢰
이동형
건별
46,000원
금속이나 기타 전도성 물질면의 일함수(Work function)값을 측정할 수 있는 최적의 측정장치로 일함수(Work function : 분자내 최외각 괘도의 전자를 이탈시키는데 필요한 힘)값을 통하여 물질의 초기 부식이나 균질성 분석 전자방출 특성을 이용한 OLED연구 및 Solar Cell 연구 등에 사용된다.
- Kelvin Probe Head Unit with Integral Tip Amplifier and 2mm Tip Additional Tips
(50 micro)
- Optical Grade Creed board
- Optical Kelvin Probe Mount with 25.4mm Manual Translator
- Sample Mount with Aluminum Sample
- 3-Axis Motorized Translation Stage
- Data Acquisition System (Pre-installed on PC)
- Scanning Kelvin Probe Software (on CD and pre- installed on PC)
- NI-DAQ Software (on CD and pre- installed on PC)
- Faraday Screen
- Spare Tip Amplifier
- Power Supply Unit
- Associated Software Cable and Manuals
- Digital Control Unit (SKP Version)
- Dell PC with 17" Monitor
- Optical Camera Arrangement with 7" Monitor and Optical Mounts
- Digital Oscilloscope