나노 및 마이크로 크기의 형상을 측정할 수 있는 장비로 탐침(probe)과 시료 간의 인력 또는 척력을 측정함으로써 시료 표면의 정보를 얻는 장비
나노 및 마이크로 크기의 형상을 측정할 수 있는 장비로 탐침(probe)과 시료 간의 인력 또는 척력
을 측정함으로써 시료 표면의 정보를 얻는 장비