JPK
Nanowizard II
5년
주장비
분석
물리적 측정장비 > 길이/위치측정장비 > 달리 분류되지 않는 길이/위치측정장비
2009-11-18
358,897,698원
이동형
건별
30,000원
나노크기의 탐침(probe)을 관찰하고자 하는 시료의 표면에 수 nm대로 근접시켰을 때 탐침부분의 끝 원자와 시료표면의 원자사이에서 발생하는 물성(터널링 전류 또는 원자간의 힘)을 이용하여 시료의 표면 또는 물성을 관찰·측정한다.
SPM Control Platform for MMAFM Microscope Stage and Head for MMAFM Microscope Scanners for MMAFM - AFM Scanner, 100 μm x 100 μm, 10 μm x 10 μm, 1 μm x 1 μm.