TESCAN
LYRA 1 XMH
10년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 달리 분류되지 않는 현미경
2009-07-08
874,784,000원
기관의뢰
고정형
일별
500,000원
본 장비는 재료의 조직 구성 분석(SEM, TEM)에 사용 될 수 있습니다
- 배율 : × 4 ~ × 1,000,000
- 에칭속도 : 10um/57sec(Si)
- 성분분석 : Be(4) ~ U(92)
- 표면형상 : × 4 ~ × 50,000
- 에칭속도 : 10um/57sec(Si)- 성분분석 : Be(4) ~ U(92)
- FIB/FE-SEM/XRF-EDS/3D-MeX
- Schottky Field Emission Gun
- GIS(Gas Injection System), Nanorobotic Manipulator
- Resolution : 1.2nm(SEI), 2.0nm(BEI), 5.0nm(FIB)