지정업체명/품명/모델명/수량㈜파크시스템스 / AFM / XE-100 / 1Set

- 용도 설명일반 대기 중에서 시료표면의 전처리 과정 없이, 즉, 도체, 반도체 및 부도체에 상관없이 3차원 형상을 측정함으로써 폭, 높이, 각도, 거칠기 등 3차원적 정보를 얻을 수 있으며, 액체 내에서도 작동하므로 살아있는 세포의 구조나 세포 분열 등을 관찰 할 수 있으며, 또한 시료의 전기적, 자기적(磁氣的), 물리적 특성, 물질 상호 반응 현상 측정 및 미세한 시료 표면 형상의 변형 기능도 갖고 있다.

- 특징본 물품은 국내 특허 제 052301호, 제10-0646441호, 제 10-0721586호로 등록된 제품이다.
* 수직스캐너와 수평스캐너를 분리하여 상호간섭 배제 / 하드웨어적인 Closed-loop Feedback 제어