JEOL Ltd.
JSM-7500F
10년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경
2008-06-01
413,926,910원
기관의뢰
고정형
시간별
70,000원
FE-SEM은 고해상도 및 고배율, 저손상 표면분석을 위해 활용하는 장비로서 고장분석, 미세구조분석 등이 가능한 분석장비입니다. 또한 EDS가 장착되어 있어 미지시료의 정성 및 정량분석이 가능합니다. BEI(backscattered electron image) 디텍터가 장착되어 있어 요철 및 성분분포에 다른 분석이 가능합니다.
Resolution :1.0nm(15kV), 1.4nm(1kV)Magnification: 25~500,000배Accelerating Voltage: 0.5~30kVMovements X:70mm, Y:50mm, Z:1.5mm~25mmTilt range:-5º~70º, Rotation:360ºMax. Specimen Size 32mm diameter