Veeco
Dimension V
9년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 달리 분류되지 않는 현미경
2008-06-20
278,581,070원
기관의뢰
고정형
시간별
61,420원
1. Semiconductor, Polymer, Material 등 그외 다양한 분야에서 시료의 물리적 특성 측정
2. Nano scale의 표면 측정
3. 전기적 특성을 특정할 수 있는 EFM(Electric Force Microscopy), CAFM(Conductive) 다양한 성능 및 이상 검사
4. Lateral Force, Phase Imagingl, MFM(Magnetic Force Microscopy) 등의 다양한 물리적 특성을 측정
사양
1. Sample : Up to 200mm and 12mm Thick
2. Magnetic Sample : Less than 15mm and 6mm Thick
3. Resolution : 2
4. X-Y scan Range : ~90 Square
5. Z(vertical) Range : 6
6. Vertical Noise Floor : 0.05nm RMS
7. Integral Linearity (X-Y) : 1% Typical
8. Integral Linearity (Z) : 1% Typical
9. Magnification : 25~108배