SCI
PHE-102
10년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 광파발생/측정장비 > 달리 분류되지 않는 광파발생/측정장비
2008-10-26
249,996,300원
고정형
건별
69,000원
광학 부품 및 증착 시료에 대한 빛을 이용하여 반사율, 굴절률을 측정할 수 있다
- Multiple layer thicknesses
- Indices of refraction
- Energy band gap
▶ Spot Size : Standard 1 mm
▶ Measurement Method : Rotate analyzer and polarizer method
- Rotating compensator: (300nm-1700nm)
▶ Detector & Light Source
- Light source : 150 W Xe lamp
- Detector : 1024 × 122 ch CCD