SII NanoTechnology Inc.
High accuracy large unit SPM L-Trace II
11년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 주사탐침현미경
2008-08-11
124,528,222원
기관의뢰
고정형
기타
20,000원
AFM(Atomic Force Microscope)은 시료의 표면을 매우 가는 금속 팁의 끝을 이용하여 원자간의 힘을 광학적 방법으로 측정하는 장비입니다. 고분해능 표면 거칠기 분석, 3차원 이미지 형상화, 다양한 샘플의 물성 측정(마찰력, 자기장, 위상, 전기적특성)을 수행합니다.
- Standard application for Nanolithography, AFM, DFM, MFM,
- 90μm scanner, Sound Proof Cover
- Closed Loop scanner
- Optical Microscope
- Adoption of 20 magnification long focus objective lens
- High magnification approximately 1000 on the display
- Including Stand for Optics
- 6inch stage
- SPL-500AD 2set(60pcs)