셰크
SNE-1500/3000M
10년
주장비
시험
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 달리 분류되지 않는 현미경
2008-12-29
93,000,000원
기관의뢰
고정형
시간별
30,000원
SEM은 매우 큰 에너지를 가진 전자빔이 시료에 충돌할 때 방출되는 2차 전자와 X선을 이용하여 아주 작은 크기의 물체를 관찰하고 성분을 분석하는 기기이며, 미세구조와 물성과의 연관성 규명, 물성과의 직접적인 관계 규명, 재료물성과 조성과의 관계 규명
1. Resolution
2. Magnification
3. Acceleration Voltage
4. Detection System
5. Electron Gun
6. Frame Memory(pixels)
7. Display(Monitor)
8. Sample stage
9. Maximum Sample size
10. Thickness
11. Auto adjustment function
12. Vacuum System
13. Observation mode
14. Sample load time
15. Dimensions & Weight
16. Image Save
17. Light Optical
18. EDS System
19. Temperature / Humidity
20. Power source
10nm
20x ~ 30,000x
1kv ~ 30kv(variable)
SE (Secondary Electron)
Tungsten Filament(cartridge)
320×249, 800×600, 1,280×960, 2,560×1,920 15″
X : 20mm, Y : 20mm, R : 360˚
75mm
35mm
Auto start, Autofocus,
Auto Brightness
Rotary Pump + Turbo Pump
High vacuum
3 min
490(W)×520(D)×540(H)mm / 80kg
BMP, JPEG, PNG, GIF, TIFF
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EVEX, BRUKER, EDAX
22℃ ±5℃ / 80% RH or less
Single phase 220 ~ 240V AC, 1KW, 50/60Hz