(주)파크시스템스
XE-200
5년
주장비
분석
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2007-05-30
180,000,000원
고정형
37,500원
- SPM Head : 접촉식 AFM, DFM, 비접촉식 AFM, FMM, Phase Image, Force vs. Distance curve, DC-EFM, Current AFM, I/V spectroscopy - Scan length : 100 ㎛ (low voltage mode : 10 ㎛) - Scan Speed : 2 ㎛ /sec to 200 ㎛/sec or more Vertical range : 262 ㎛ or more - Resolution < 0.15 nm (low voltage mode : < 0.02 nm) - Zoom optics : 500 X - Stylus Tip : 5 ㎛ or more - Sample size : Up to 200 mm x 200 mm, 20 mm thick
○ Probe tip(지름 100 Å 이하)과 시편 표면 사이의 interaction (bend or deflection)을 laser beam의 위치감응 광 다이오드검출기(PSPD)로 측정 - 시편의 초미세 구조의 표면영상을 최대 1,000만 배의 배율에서 얻을 수 있는 현미경