Technoorg Linda
IV5
10년
주장비
생산
기계가공·시험장비 > 절삭장비 > 달리 분류되지 않는 절삭장비
2007-02-22
88,232,528원
고정형
건별
20,000원
특징
Low ion gun energy를 이용한 TEM sample endpolishing
구성및성능
TEM sample surface를 Low-angle and low-energy로 ion beam treatment
활용분야
TEM sample endpolishing, cleaning
시편가공장치(Gentle Mill Ion Miller)의 구성 및 성능은 다음과 같습니다. TEM sample surface를 Low-angle and low-energy로 ion beam treatment