J.A. Woollam
M-2000
10년
주장비
계측
전기·전자장비 > 측정시험장비 > 전압/전류/전력측정시험장비
2007-07-12
414,454,819원
고정형
건별
20,000원
특징
다양한 파장의 빛을 박막에 투과시켜 빛의 편광특성 변화로 박막의 특성을 평가함
구성및성능
구성 : Light Source, Main Body, Control Computer 성능: Light Source의 파장대(193nm~1000nm)
활용분야
박막의 두께, 굴절율, 표면거칠기 등 측정
박막두께 및 굴절율 측정장치(Spectroscopic Ellipsometer )의 구성 및 성능은 다음과 같습니다.
구성 : Light Source Main Body Control Computer 성능: Light Source의 파장대(193nm~1000nm)