엘립소테크놀러지
Elli-SE-F
10년
주장비
분석
물리적 측정장비 > 길이/위치측정장비 > 달리 분류되지 않는 길이/위치측정장비
2007-11-19
50,000,000원
없음
입사광과 반사광의 편광의 변화량을 측정하여 그 결과 고분자 재료의 박막 두께를 측정하며 재료의 복굴절 현상과 비등방성 측정 한다. 재료의 파괴없이 두께 및 n k 값 측정이 가능하다.
Measuring constants film thickness, n(λ) and k(λ)Thickness range 1Å~10um(depends on film type)Number of layers more than 10layersWavelength 380~1100nm
기관의뢰
이동형
시간별
20,000원
입사광과 반사광의 편광의 변화량을 측정하여 그 결과 고분자 재료의 박막 두께를 측정하며 재료의 복굴절 현상과 비등방성 측정 한다. 재료의 파괴없이 두께 및 n k 값 측정이 가능하다.
Measuring constants film thickness, n(λ) and k(λ)Thickness range 1Å~10um(depends on film type)Number of layers more than 10layersWavelength 380~1100nm