HORIBA
UVISEL/M200, RT-80
10년
주장비
계측
광학·전자 영상장비 > >
2007-05-29
439,714,000원
기관의뢰
고정형
시간별
73,470원
용도
- 반도체 박막특성분석
01) Thickness Measurement
02) Roughness
03) Uniformity
04) Index of Refraction
사양
1- 측정범위 : 1Å~1㎛
2 - 파장범위 : 240~850nm
3 - 측정빔의크기 : 50, 100, 1000㎛
4 - 측정시편 : piece~30mm
5 - XY Position Accuracy : 5㎛