CASCADE
Summit 12971B
10년
주장비
분석
전기·전자장비 > 측정시험장비 > 달리 분류되지 않는 측정시험장비
2007-03-28
317,997,000원
기관의뢰
고정형
기타
91,060원
Probing을 통한 전기적 특성 및 분석시험
1 - 반도체 Wafer 및 Chip 상에 Probing을 통한 전기적 특성 및 분석 시험 지원
2 - 반도체 SOC 소자 반도채재품개발, 양산적용과정의 Wafer Level Chip 단위 전기적 특성 분석지원
1). Main unit: 8 inch Semi-Auto 2). Thermal system: -55C?to?+200C 3). Probe Station supports Low current measurement as low as 10fA and RF measurement. 4). Probe Station shall have a 8 x 8programmable stage with manual x, y and theta control. 5). Probe Station should have a Micro chamber for RFI, EMI and Thermal Shield, Eliminate electro-magnetic, ensuring a dark, noise-free and moisture-free measurement environment. Dark box are not required 6). Probe leakage + Noise: less than?1fA (Thermal off), 10fA(Thermal on) 7). Chuck leakage + Noise: less than?1fA(Thermal off), 20fA(Thermal on)