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- Field Emission Scanning Electron Microscope
- 필드 에미션 주사전자 현미경
- i-Tube No. 0708-A-0096
- NTIS No
- 설치기관 한국전자기술연구원
- 주소 경기도 성남시 분당구 새나리로 25 (야탑동)
- 담당자 오철민 (T. 031-789-7291 )
- 매뉴얼
-
온라인* 본 장비는 온라인 예약이 불가하오니 장비사용 예약과 관련해서는
예약가능여부
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장비정보
-
제작사
HITACHI
-
모델 명
s-4800
내용연수3년
-
구분
주장비
용도분석
-
표준 분류
광학/전자영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경
장비활용범위공동활용서비스
-
취득일
2007-08-28
취득금액343,280,778원
- 인증정보
- 기능
- 장비 상세설명
이용안내
-
사용형태
기관의뢰
설치형태고정형
-
사용료 형태
시간별
장비 사용료90,000원
장비설명
Field Emission Scanning Electron Microscope.
- 전기전자부품의 정밀 형태관찰
- 전기전자부품의 정밀형태 관찰
- 시료의 구성원소 분석에 사용됨.
장비 구성 및 성능
- Column
ᆞ Secondary electron image
- resolution
ᆞ 1.0nm at 15kV or better
- Display
ᆞ Image display system
- Vacuum pump system
ᆞ Vacuum sequence : Fully automatic evacuation
서울특별시 강남구 테헤란로 305 한국기술센터 2~7, 14층, 16~17층, 21층
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