칼자이스
LIBRA 200FE
11년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 투과전자현미경
2008-12-08
1,930,081,080원
기관의뢰
고정형
기타
167,530원
반도체 소자의 내부에 극미세구조 및 성분분석
1 - 반도체 소자의 내부에 극미세구조 분석 및 성분 분석 2 - Electron Beam을 시료에 투과시켜 산란흡수, 회절, 위상 3가지의 contrast(명암)을 이용하여 적층 구조 및 성분을 고분해능으로 분석
1 - Accelerating Voltage : 200kV 2 - Resolution : 1) Basic Instrument - Point to Point : 0.24nm ~ 0.29nm - Information Limit : 0.14nm ~ 0.19nm - Energy Resolution : 0.7eV or less 2) TEM Diffraction - Global and Elastic CBED/LACBED 3 - Magnification Range : 8x - 1200kx 4 - Probe Current : 10pA - 80nA 5 - Emitter : ZrO/W-field Emitter System 6 - ILLumination Tilt and Shift - Beam shift(MAG Mode) : +-20um or less - Beam shift(LM Mode) : +-0.75um or less 7 - Specimen Stage : 5-axes fully eccentirc, all motorized 8 - EDX(Energy Dispersive X-ray Spectrometer)