FEI
Quanta 3D FEG
11년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경
2009-09-10
1,084,974,214원
기관의뢰
고정형
시간별
246,000원
Ga 이온빔 에너지를 고압(30kV)으로 집속 가속하여 시료의 표면에 도달하여 발생하는 2차 이온 에너지를 검출하여 image 화상을 얻을 수 있음.
불량 분석 및 샘플의 modify가 가능하도록 단면 milling, deposition 가능.
Electron optics
- Resolution : 1.2nm@30kV
- Detector : SE, BSE, STEM, ESEM mode
Ion optics
- Resolution : 7nm@30kV
- Beam Current : Up to 65nA
Add on
- GIS(Gas Injection System) : Pt
- Omni probe
- EDX + EBSD