특징XRF의 작동 원리는 시료에 1차 X선을 조사하여 발생하는 형광 X선을 보통 분 광결 정에 의하여 분광된 강도를 검출기로 측정하여 나온 DATA를 PC를 통해 분석 한다 ① 원자가 내부 껍질에 있는 전자를 잃고 들뜬다. ② 바깥 껍질에서 전자가 전이하면서 정상 상태로 되돌아 간다. ③ 이때 高 E를 가지고, 0.1~100Å의 짧은 파장을 가지는 X선이라는 E를 방 출한다 XRF는 금속 또는 분말시료의 경우 비파괴 분석으로 시료 조제가 용이하고 신 속하 다. 동시에 많은 원소의 분석이 가능하고 분석시간이 짧다. 재현성이 우수하 여 분 석자에 따른 오차가 들어가지 않는다. 작동이 용이하고 한번 숙달이 되면 미 숙련 자 일지라도 정확도가 좋은 분석을 할 수 있다. 원자 흡수 흡광법이나 유도 결합 플라즈마 분석법에 비하여 분석 비용이 저렴하다.구성및성능S4 EXPLORER Basic housing Moveable on wheel Vacuum slide without gas flushing Detector unit Fe and SC Sample magazine for 60 sample holders Vaccum Pump LIF(200) Analysator crystal PET Crystal XS55활용분야슬래그 성분분석 철강재료 성분분석