JA WOOLLAM CO INC
M-2000V
9년
주장비
계측
물리적 측정장비 > 길이/위치측정장비 > 달리 분류되지 않는 길이/위치측정장비
2007-03-12
102,717,800원
고정형
시간별
30,000원
Ellipsometer는 4in ~ 8in wafer를 사용할 수 있는 장비이며 시편을 사용하고자 할 경우 수동으로 loading 가능한 크기만 가능하다 시편이 loading chuck보다 작을 경우에는 넓은 크기의 wafer에 붙여서 측정하는 것이 가능하다.
단층, 다층 막을 측정하는 것을 지원하며, 다양한 막에 대해서 측정을 지원한다
Auto loading 박막 두께 측정 SiO2/Si ->30000A
Si3N4/Si ->20000A
Poly ->2000A (Poly의 종류에 따라서 변화가 있음)
PR ->30000A
* Multi Layer 측정도 가능함.(두께에 따라 달라짐)
Si3N4/SiO2/Si
Poly/SiO2/Si
4“ ~ 8” 까지 측정 가능(시편 불가능)
Metal 측정 불가
측정하고자 하는 sample이 pattern일 경우 측정하지 못함