나노시스템
NV-E1000
8년
주장비
계측
광학·전자 영상장비 > 광파발생/측정장비 > 달리 분류되지 않는 광파발생/측정장비
2007-11-14
77,590,000원
직접사용
고정형
시간별
[Hr] 30,000원
기계, 자동차, 전기전자 분야 시험 그리고 리크 관련 연구를 위한 표면 형상 및 조도 측정
간섭 신호를 해석하여 측정 표면의 높낮이 단차 측정
금속, 비금속, 전자기판 표면형상의 고정도 측정 및 3D 형상화
1. Scanning method1) Closed-loop controlled piezo-based scanning sensor2) Closed-loop controlled motor scanning2. Scanning range z-axis1) Piezo-based scanning range : 150 ㎛2) Motor scanning range : 5 mm3. Scanning speed1) High accuracy mode : 2.4 ㎛/sec2) High speed mode : 7.2 ㎛/sec4. Resolution1) Vertical resolution : 0.1 nm2) Lateral resolution : 0.4 ㎛5. Step height repeatability : 0.5% at 1σ or better6. Measuring method1) White light scanning interferometery2) Phase shift interferometery7. Interference lenses1) 5x Michelson interference objective type2) 10x Mirau interference objective type3) 50x Mirau interference objective type8. Data analysis and image processing softwares