PSIA
PSIA XE-100
15년
주장비
분석
물리적 측정장비 > 길이/위치측정장비 > 달리 분류되지 않는 길이/위치측정장비
2006-01-05
135,000,000원
기관의뢰
고정형
건별
50,000원
SPM은 STM과 AFM을 통칭하여 부르는 용어이며 그 원리는 다음과 같다.
STM은 최초로 개발된 주사탐침 현미경으로서 시료와 탐침과의 거리가 매우 근접되었을 때 시료와 탐침사이에 흐르는 턴넬 전류를 이용하여 시료표면의 궤적을 주사하여 형상화하는 기능이다.
AFM의 경우는 잘 휘어지는 지렛대 끝에 달려있는 뾰족한 침과 시료표면에 작용하는 원자 반발력 즉 인력 및 척력이 작용한다. 이러한 상호작용 때문에 지렛대가 휘게되고 그 휘는 정도를 레이져 광의 굴절을 통해서 표면정보를 얻는다.
최근에 와서 NSOM NISSIM등 AFM과 접목된 새로운 차원의 현미경 기능이 추가됨으로 수년전부터 세계적으로 통칭하여 주사탐침 현미경으로 불리운다.
1. X-Y Scanner 2. Z Scanner 3. Z-Stage 4. Optical microscope 5. Cantilever 6. Controller 초 극세사의 표면분석