KRATOS
AXIS NOVA
5년
주장비
분석
화합물 전처리·분석장비 > 분광분석장비 >
2006-05-09
543,768,053원
없음
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기관의뢰
고정형
기타
120,000원
특징
AXIS NOVA Tecnai G2 System
활용분야
이미지 성분분석
XPS는 monochromatic Al-Kα선을 광원으로 사용하며 X-선에 의하여 여기된 광전자를 이용하여 4∼20층의 원자 혹은 분자층에 해당하는 1∼5nm 깊이의 시료 극표면에 관한 정보를 얻을 수 있는 장비로서 표면의 원소 구성비(elemental composition)와 각 원소의 화학결합상태(chemical state)를 분석하는 용도로 주로 사용되고 있다.
XPS의 원리는 소재를 구성하는 각 원소마다 내각 전자들의 결합에너지가 다르다는 점에 기인하여 내각 전자들의 결합에너지를 측정함으로써 어떤 원소가 있는지를 유추할 수 있을 뿐만 아니라 전기적 상호작용 에너지에 의한 화학결합에 최외각 전자의 분포가 바뀌는 Chemical shift 현상을 이용하여 전자의 결합에너지를 정확히 측정함으로써 각 원소의 화학결합상태까지 분석이 가능하게 된다.
1. Energy resolution of Al monochromatic source : <0.48eV(FWHM Ag 3d5/2)2. Charge compesation system : Co-axial charge neutralization3. Acceleration voltage of floating ion source : 0.5~4kV4. Analysis spot size : 15㎛, 27㎛, 55㎛, 300×700㎛5. Detectable energy range(K.E) : 100 ~ 1500 eV6. Accelerating voltage : 1~15kV7. Probe current range : 1~10A8. Pass energy range : 5, 10, 20, 40, 80, 160 eV9. Automatic Charge compesation system : <0.68eV(FWHM on PET)10. Parallel XPS imaging resolution : <3㎛ 11. Magnification of parallel imaging : 220×220㎛, 425×425㎛, 950×950㎛